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闪存芯片失效分析与测试技术研讨会-暨置富闪存芯片智能测试系统发布会成功举行
来源: | 作者:SZEIA | 发布时间: 2021-09-13 | 1159 次浏览 | 分享到:

    


     9月9日,由置富科技主办的“闪存芯片失效分析与测试技术研讨会-暨置富闪存芯片智能测试系统发布会”在深圳中科谷产业园举行。协会副秘书长许淳彦应邀出席此次研讨会。

     众所周知,存储芯片在全球半导体产业中占据着重要地位,是信息技术产业中重要的组成部分,但闪存芯片随着迭代质量不断下降,各厂商技术标准不一,面对目前的产业市场环境,企业该如何应对闪存质量下降所带来的影响,是这次会议讨论的主要话题。

     本次会议邀请到全国信息技术标准化技术委员会信息技术研究中心、深圳市计算机行业协会、中国科学院深圳先进技术研究院、中国长城科技集团股份有限公司、深圳宏芯宇电子股份有限公司、深圳市华澜微电子有限公司、中电信源科技发展(北京)有限公司、长江存储科技有限责任公司、比亚迪股份有限公司、创维集团科技管理有限公司、北京忆芯科技有限公司、深圳市得一微电子有限责任公司、联芸科技(杭州)有限公司、中科谷产业发展中心等重要嘉宾参会致辞,中国科学院深圳先进技术研究院刘志权博士、华中科技大学教授刘政林博士、置富科技武汉研发中心陈毅成博士作为本次研讨会重要发言人就闪存芯片可靠性发表相关观点。




     置富科技董事长肖军先生表示:“置富科技正处于难得的战略发展机遇期,得益于国产替代进口政治经济红利、半导体行业大发展红利、大湾区建设政策红利、多层次资本市场深化改革红利等,多重加持,置富科技进入了更为广阔高速的发展赛道。真诚希望能向在座的行业翘楚学习,共同发展。未来之路,共享置富。”




全国信息技术标准化技术委员会信息技术研究中心陈海主任作重要讲话

     陈主任在会议中强调,存储芯片在全球半导体产业中比重达到20%,是信息技术产业中重要的组成部分,但核心技术一直被国外高度垄断。置富科技在闪存测试技术方面,对存储的寿命预测、存储的可靠性分析等研制相关的验证测试工具,弥补了国内对SSD产品、产业发展过程质量的综合评价落地实施,对国产SSD产品的自主可控发展,对SSD产品在信创、军用装备、工业控制等领域应用产品的质量提升具有重要意义。




     深圳市计算机行业协会杜和平执行会长对会议的召开表示热烈的祝贺!他在致辞中指出:随着半导体制程工艺不断提升,测试和验证也变得更加重要。置富科技专注于研发和生产闪存芯片测试设备,是国内该领域的知名供应商,2021年初加入协会,为我国半导体行业的发展注入了有生力量。今后,协会将进一步整合上下游资源,促进链上企业深入合作,实现多方共赢。




     中国科学院深圳先进技术研究院刘志权博士专题演讲:电子材料与器件的分析检测与失效分析

刘志权博士是中国科学院深圳先进技术研究院研究员,中国科学院大学及中国科学技术大学博士生导师,深圳先进电子材料国际创新研究院技术平台部部长,中国科学院百人计划海外引进学者。




     华中科技大学教授刘政林博士专题演讲:闪存芯片失效与预防

刘政林博士是华中科技大学光学与电子信息学院教授,2007年入选教育部新世纪优秀人才计划。研究方向涵盖数字集成电路、硬件安全、安全CPU、车联网安全、存储器测试等。

     近年来,随着闪存可靠性研究的不断深入,研究发现闪存实际使用寿命远高于标称值,原始错误率无法有效预测不可纠正错误。对此刘政林博士提出了闪存预防策略与方法模型,并希望未来应用到,如云存储、数据中心、轨道交通,航天航空等这些具有使用寿命需求的设备,让存储设备能够具有更长的使用寿命、降低大型存储设备数据丢失的风险。


    

     置富科技武汉研发中心陈毅成博士专题演讲:3D TLC工艺偏差和可靠性:挑战与应对

陈毅成博士是华中科技大学固体电子学和微电子学博士,入选武汉市第十二批“3551光谷人才计划”, 研究方向包括军规固态硬盘设计,图形编解码器的设计,数据存储加密技术,加解密算法侧信道攻击和防护 技术、安全芯片设计等。

    陈博士提出,研究工艺偏差效应对3D NAND可靠性非常关键。自适应的错误预测可以有效预防工艺偏差带来的不良结果,在检测和预测的基础上,多种机制可以用来保证数据的可靠性,提高使用寿命。




      置富科技战略部总经理王龙表示,我国目前的IT底层标准、架构和产品大多是由美国IT公司制定的,一直以来我们都被卡脖子,受制于人。在国家给予的大力政策支持下,我们要建立自己的标准,让国产化产业更加健全和规范。我们希望通过更科技化的方式改善目前混乱的存储市场状况,让存储产业更加立体更加标准化。




      置富科技武汉公司总经理李四林提出,目前国内市场对于存储行业没有很明确的规范,为了降低成本,闪存质量不断下降,寿命越来越低,同一批次闪存颗粒的品质特性都不尽相同,再者不同行业领域的应用,对所需存储产品的品质特性要求不一。

      置富科技正是在这种行业环境下,发明了寿命预测技术和闪存芯片智能测试系统,能对闪存颗粒的质量进行精准检测分析。目前公司产品中,置富科技的测试系统从便携式、生产版、科研版等一应俱全,可以满足科研单位、生产厂商、检测中心等的不同需求,后续还将陆续推出面向嵌入式设备的EMMC/UFS等测试系统。

     在会议的现场,数家品牌企业与置富科技达成合作意向并参观了置富科技闪存芯片质量研究实验室,共同助力闪存质量标准化的进程。




     在存储行业蓬勃发展的趋势下,置富科技独有的闪存芯片智能测试系统的推出将代表着重要意义,成为企业间的桥梁,帮助上下游良性协同发展,为推动存储产业国产化贡献微薄之力。