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置富科技首发eMMC测试设备亮相第二十三届高交会,荣膺优秀展示奖
来源: | 作者:SZEIA | 发布时间: 2022-01-07 | 1183 次浏览 | 分享到:
12月29日,以“推动高质量发展,构建新发展格局”为主题的第二十三届中国国际高新技术成果交易会(下称“高交会”)在深圳会展中心(宝安馆+福田馆)圆满落下帷幕。作为“中国科技第一展”,本届高交会创造了首个实行一会两馆的历史,集中展示新一代信息技术、生物技术、新能源、新材料、互联网、大数据、人工智能、闪存芯片等各产业深度融合的新技术、新产品、新业态和新模式,为各位展商和专业观众奉上了一场科技盛宴。

高交会现场

本次展会置富科技首次发布了自主研发的eMMC存储芯片测试设备。

随着信息化的不断发展,手机已经成为eMMC市场的最大应用领域,其次是平板电脑、电子书阅读器和具备GPS的便携导航设备,以及摄像机和机顶盒,该产品有着较强的可靠性与性能,在高端产品中,eMMC市场将在未来几年保持增长。

置富科技eMMC存储芯片测试设备具有宽温筛选、寿命预测、原始数据采集、等级划分、数据保持测试、Read-retry、定制化等功能,可以为手机/平板电脑厂商、摄像机、机顶盒、GPS便携导航设备等厂商,提供专业及高精准度的测试服务。

eMMC存储芯片测试设备(左)和

便携式-专业版测试设备(右)展示

除此之外,置富科技还重点展示了便携式-专业版、科研版测试设备以及自主可控芯片和精准定义的消费类、行业类、工业类、服务器类、高端工业类部分固态存储产品,不仅受到了现场观众、存储行业客户、媒体和投资机构的青睐,并获得2021年中国国际高新技术成果交易会智慧城市展“优秀展示奖”。

五大应用领域固态硬盘和自主可控Flash颗粒展示

置富科技荣获高交会组委会颁布的优秀展示奖


置富科技高级测试工程师通过闪存芯片智能(AI)测试系统对闪存颗粒进行寿命预测,实时生成测试报告,为观众讲解测试设备功能,分析测试原理,共享测试技术和存储行业相关信息。

客户比亚迪参观设备

高级测试工程师讲解测试原理

高级测试工程师介绍便携式测试设备

高级测试工程师与客户沟通产品需求

虽然受到疫情的影响,寒风的侵袭,但是本届高交会精彩与热情都不曾缺席。通过本次展会,置富科技更加贴近客户群体,了解客户需求,洞悉存储行业最新动态。在以后的发展中,我们将继续砥砺前行,为广大客户提供优质的服务和精准的产品解决方案。